海银 PCT 高压加速老化箱，加快电子材料失效评估

海银 PCT 高压加速老化箱，加快电子材料失效评估
       电子元器件、封装材料长期处在湿热环境下，容易出现分层、漏电、封装开裂、绝缘性能下降等问题。常规温湿度老化试验周期漫长，难以满足新品快速验证需求，PCT 高压加速老化试验，通过提升腔体内部饱和蒸汽压力与温度，放大水汽渗透作用，压缩试验时长，是电子行业常用的可靠性验证手段。 海银 PCT 高压加速老化箱采用压力密闭腔体结构，配备压力传感模块、温度采集单元、**泄压装置，试验过程全程闭环监测。设备可以稳定维持高温高压饱和水汽环境，区别于普通湿热箱，腔体内部为无空气的纯蒸汽环境，水汽渗透效率更高，加速老化效果更加明显。 

设备主要技术参数参考下表：

       该设备适用试样包含 IC 芯片、环氧封装料、PCB 线路板、陶瓷基材、连接器、电容电阻封装件等。在试验前，操作人员需要检查水箱水位、密封圈完整性，确认泄压阀无堵塞；将样品放置在样品架上，样品之间预留间隙，保障蒸汽流通均匀。设置目标温度、压力、试验时长后，设备自动完成升温、升压、计时、泄压冷却整套流程。 在试验结束后，工作人员取出试样，通过外观检查、绝缘电阻测试、金相切片等方式观察试样变化，判断是否出现起泡、分层、裂纹、性能衰减等失效现象，以此评估材料抗湿热耐候能力。 海银装备在设备生产阶段，按照可靠性试验设备相关规范进行整机调试，每一台设备出厂前都会做多轮参数校验，保证腔体内部温压均匀性。设备自带多重**防护，超压自动泄压、超温断电保护、缺水预警，规避试验过程中的**隐患。设备配套独立控制系统，可存储多组试验程序，支持程序段循环运行，适配不同客户多批次、多方案的测试需求。 该类加速老化试验数据，可用于产品研发对比、原材料选型判定、生产批次质量筛查，帮助企业提前锁定薄弱材料与工艺缺陷，减少产品投放到市场之后，在湿热工况下出现批量失效问题，缩短新产品的验证周期。