制备工艺 (1) 原料选择 使用天然鳞片石墨或石油焦为原料,需预先酸洗(HCl/HF)去除金属杂质。 (2) 高温纯化 卤素气体处理:在2500–3000°C下通入Cl₂、F₂等,挥发金属杂质(如Fe、Al形成氯化物)。 真空热处理:进一步去除残留气体和碳化物。 (3) CVD辅助纯化 通过化学气相沉积(CVD)在基底上生长超纯石墨层,避免原料污染。 (4) 后处理 超纯水清洗、无尘室加工,避免二次污染。 3. 核心应用 (1) 光谱分析 标准样品载体:用于原子吸收光谱(AAS)、电感耦合等离子体(ICP)分析,避免杂质干扰检测信号。 X射线荧光(XRF):作为低背景样品台。 (2) 半导体与单晶生长 坩埚材料:生长GaAs、SiC等单晶,避免金属污染。 外延衬底:用于石墨烯或氮化镓(GaN)外延生长。 (3) 核工业 慢化剂或反射层:高纯度减少中子吸收(硼含量需<0.1 ppm)。 (4) 高能物理 粒子探测器组件(如对撞机靶材)。
使用天然鳞片石墨或石油焦为原料,需预先酸洗(HCl/HF)去除金属杂质。
卤素气体处理:在2500–3000°C下通入Cl₂、F₂等,挥发金属杂质(如Fe、Al形成氯化物)。
真空热处理:进一步去除残留气体和碳化物。
通过化学气相沉积(CVD)在基底上生长超纯石墨层,避免原料污染。
超纯水清洗、无尘室加工,避免二次污染。
标准样品载体:用于原子吸收光谱(AAS)、电感耦合等离子体(ICP)分析,避免杂质干扰检测信号。
X射线荧光(XRF):作为低背景样品台。
坩埚材料:生长GaAs、SiC等单晶,避免金属污染。
外延衬底:用于石墨烯或氮化镓(GaN)外延生长。
慢化剂或反射层:高纯度减少中子吸收(硼含量需<0.1 ppm)。
粒子探测器组件(如对撞机靶材)。