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PCT 高压加速老化试验箱｜PCT High Pressure Accelerated Aging Test Chamber
产品简介：

海银 PCT 高压加速老化试验箱（型号 HY），属于高加速湿热可靠性测试设备，通过创造高温、高压饱和水蒸气环境，强化水汽渗透效应，用来快速考核半导体封装件、电子连接器、新能源零部件、磁性陶瓷材料等试样的耐湿热、抗水汽侵蚀与密封可靠性。设备采用不锈钢承压腔体，搭载高精度温压控制系统，集成多重**保护联锁结构，支持按 JEDEC、IEC 等国际测试标准编辑试验程序，能够在短时间复现产品长期湿热环境下的老化失效现象，为产品研发、来料质检、工艺优化提供客观可靠的试验数据支撑。

/ 18925806291 刘经理
产品参数

PCT 高压加速老化试验箱｜PCT High Pressure Accelerated Aging Test Chamber

       海银 PCT 高压加速老化试验箱，又称高压蒸煮试验箱，型号 HY，专门用于高加速压力蒸煮测试，广泛应用于电子、半导体、新能源、粉末冶金、陶瓷材料等行业的可靠性实验室。该设备区别于普通恒温恒湿试验设备，在密闭承压腔体内形成高于标准大气压的饱和蒸汽环境，利用高温高压的复合应力，大幅提升水分子穿透能力，加速水汽渗透进入样品内部，在数小时至数十小时试验周期内，模拟产品数年湿热服役环境，快速检出封装开裂、缝隙渗漏、基材水解、界面剥离等潜在缺陷，是元器件密封性能验证的核心设备。


       设备内腔采用耐蒸汽腐蚀的加厚不锈钢板材加工，整体承压框架经过力学**校核，长期高温高压工况下不易变形生锈。整机温压采集模块选用高精度传感器，搭配独立闭环温控压力调节系统，箱内温度、压力参数稳定均匀，有效减少区域温差与压力波动，降低试验数据离散度，保证不同批次样品试验结果的重现性与对比性。**层面配备压力自动泄压保护、超温停机保护、缺水预警保护、门盖锁紧联锁等多重防护机制，一旦出现异常工况设备会自动切断加热，规避**风险，保障实验室操作人员与样品**。
       控制系统支持多段程式编程，操作人员可根据 JEDEC、IEC 等行业规范自定义设置温度、压力、保压时长、升降压速率等试验参数，自动完成升温、升压、恒温恒压保载、降温泄压整套试验流程。试验结束后设备自动停机泄压，无需人员全程值守。该设备多用于新品研发验证、批次可靠性抽检、材料配方对比试验，帮助研发人员快速定位材料缺陷与封装工艺短板，指导产品结构优化，提升成品在潮湿高温环境下的长期使用稳定性。设备出厂前完成整机调试与检验，配套操作手册，便于实验室人员学习操作，快速开展各类 PCT 加速老化测试项目。
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