海银PCT-35 高压加速老化试验箱
产品简介:

海银 PCT-35 高压加速老化试验箱,通过密闭腔体营造高温高压饱和蒸汽环境,加速水汽渗透,快速暴露电子封装件分层、漏气、绝缘失效等缺陷,是半导体封测、精密电子元器件可靠性验证的专用设备,满足多项行业加速老化测试规范,配备多重**联锁防护,运行稳定**,适配实验室常态化可靠性筛查。

/ 18925806291 刘经理
产品参数

       海银 PCT-35 高压加速老化试验箱属于饱和蒸汽型加速应力测试设备,通过密闭舱体内高温高压水蒸气,大幅缩短湿热老化周期,快速复现产品长期受潮腐蚀、封装失效问题,多用于芯片、PCB、LED、磁性材料等元器件的封装耐湿可靠性验证,是半导体、电子制造行业开展失效分析、来料检验、成品可靠性摸底的核心试验设备。设备采用承压圆形舱体结构,腔体应力分布均匀,承压**余量充足,温压控制响应平稳,负载适应性强,操作界面直观,配备多重**保护,适合长时间不间断循环测试。

※采用圆桶式承压腔体结构,承压性能优异,相比方形腔体应力集中风险更低,适配高压饱和蒸汽测试工况; 

※PLC + 彩色触控变频调控系统,可连续编辑多段温压程序,参数数值实时展示,调节精准直观; 

※内胆采用镜面 304 不锈钢一体加工,耐蒸汽腐蚀、不易结垢,标配可活动样品架,放置试样灵活; ※蒸汽自动补水系统,水位实时监测,缺水自动补给,搭配水位预警,规避干烧风险; 

※主蒸汽发生组件升温均匀,腔内饱和蒸汽温场一致性好,同批次样品测试数据离散度小; 

※舱门配备压力联锁门锁,腔体内部压力未完全泄压时舱门无法开启,杜绝误操作风险; 

※具备定时功能,可自定义试验时长,计时结束自动停机泄压,解放人工值守; 

※超温保护、超压**阀、缺水保护、过载断电多重防护,异常工况自动停机,保护试样与设备; 

※整机外壳静电喷塑处理,防锈耐腐蚀,结构扎实,长期使用不易变形; 

※操作面板布局简洁,触控可视化操作,上手门槛低,操作人员无需复杂培训; 

※符合 JEDEC JESD22-A102、相关国标 PCT 高压加速老化测试标准,试验结果具备参考性; 

※可按需选配数据存储导出模块,自动记录温压曲线,方便报告整理归档; 

※故障提示功能,出现异常可快速定位问题,维护保养简单,密封件、阀组配件更换便捷。

项目 海银 PCT-35 高压加速老化试验箱
型号 PCT-35
腔体容积 35L
温度范围 100℃~132℃
压力范围 0.02MPa~0.2MPa
腔内湿度 100% RH 饱和蒸汽
升温时间 常温升至 132℃≤45min
计时范围 0~9999h(可调)
驱动控制 PLC + 彩色触控屏
电源 AC220V 50Hz
内胆材质 SUS304 镜面不锈钢
型号 内腔容积 *高温度 *大压力 适用场景
PCT-25 25L 132℃ 0.2MPa 小批量样品、芯片小样测试
PCT-35 35L 132℃ 0.2MPa 常规 IC、LED、PCB 试样测试
PCT-50 50L 132℃ 0.2MPa 多组样品、较大尺寸组件批量测试

相关产品
相关文章