海银 COK-80F-2P 两槽式冷热冲击试验箱是一款温度骤变可靠性检测设备，依靠提篮移送试样在独立高温槽、低温槽之间快速切换，复现实场环境中急速升温、急速降温的严苛工况，用来检测电子组件、塑胶材料、密封器件在剧烈温差下的结构稳定性，判定产品耐受温度冲击的能力，是新能源电子、半导体封装、汽车零部件行业开展温度冲击可靠性验证的专用试验设备。设备切换响应迅速，高低温仓独立控温，温场稳定，负载适应性强，控制系统功能齐全，配备多重**保护，适合批量样品循环冲击测试。

※采用两槽独立腔体 + 提篮移送结构，高低温仓相互隔离，冷热气流互不串扰，冲击转换速度快； 

※可编程 PLC 触控控制系统，可自由设置高温驻留时间、低温驻留时间、循环次数，参数实时展示，调节精准直观； 

※内胆采用 SUS304 不锈钢一体折弯成型，抗高低温老化，不易锈蚀，样品提篮承重结构稳固； 

※制冷单元采用复式低温制冷回路，降温速率稳定，低温极限温度达标，长期连续冲击测试性能稳定； ※独立加热风道系统，高温仓升温均匀，温度波动小，保证同批次样品冲击条件一致； 

※具备自动循环冲击、手动单步切换功能，可自定义循环总次数，试验完成自动停机并记录数据，解放人工值守； 

※超温保护、压力保护、制冷过载、电机过载多重防护，异常工况自动停机，保护试样与设备核心部件； 

※整机外壳静电喷塑处理，保温层选用高密度隔热材料，减少仓间热量传导，降低能耗； 

※操作面板布局简洁，程序编辑简单，支持多组工艺存储调取，操作人员上手门槛低； 

※满足 GB/T 2423.22 温度冲击相关测试标准，冲击条件可控，试验结果具备参考性； 

※可按需选配防凝露供气组件、温度数据记录仪，适配对凝露敏感的芯片、光学组件测试； 

※故障提示功能，出现异常可快速定位故障点位，维护保养便捷，密封件、制冷配件更换简单。